1、概述
漏磁檢測（MFL）和超聲波探傷（tT）已被廣泛應用于鐵磁性闆材和管材的坑狀腐蝕檢測。用戶和檢測人員(yuán)對這些産法的靈敏度和精确度有著(zhe)不同的理解和期望。本文讨論了這兩種方法的基本原理及它們對缺陷檢出的可能(néng)性（POD）和精确度的影響。
2、坑狀腐蝕
腐蝕的機(jī)理和類型有很多(duō)。在這裡(lǐ)，我們專門(mén)讨論儲罐底部與防水(shuǐ)層之間的腐蝕或儲罐内部介質水(shuǐ)分的腐蝕。
在二十世紀六十年(nián)代，用于管道系統沖蝕的超聲波探傷是相(xiàng)當成功的，它給人一(yī)種能(néng)準确檢出坑狀腐蝕的錯(cuò)覺。為(wèi)了幫助理解這種差異，現舉例說明沖蝕和一(yī)些典型的腐蝕形狀。圖1表示沖蝕，圖2至4是“湖(hú)型”、“錐型”、"柱型"腐蝕的形狀簡圖。
圖5至8是沖蝕、典型的“湖(hú)型”和“錐型”腐蝕坑圖片。這種記錄腐蝕的形成步驟或是其“梯式”發展形式很有意義。在儲罐底闆上(shàng)一(yī)般發現最多(duō)的是“湖(hú)型”和“柱型”腐蝕，它們形成的普遍原因是濕氣進入了底闆與防水(shuǐ)層
（底闆外側）之間，或是儲存的産品中有水(shuǐ)分（底闆内側）。柱型坑相(xiàng)對來說是不常見(jiàn)的，通(tōng)常是介質中水(shuǐ)分和硫化物(wù)
（SRB）綜合産生(shēng)的結果。
3、方法原理
MFL和UT的原理在其它地方已做過詳細叙述，出于本文的目的，在此僅做簡要描述。
圖聽意了MFL的基本原理。裝在支架上(shàng)的磁鐵在闆材或管壁上(shàng)産生(shēng)強的感應磁場。若闆材或管壁存在腐蝕缺陷，在其相(xiàng)應的表面形成漏磁場。在磁極之間放(fàng)置一(yī)排探頭探測該漏磁場。探頭通(tōng)常采用霍爾元件(jiàn)或線圈。而且每種類型的探頭者有其優勢和局限性。
圖10是一(yī)套運用了脈沖反射波原理的簡易UT裝置示意圖，它使用了雙晶探頭。在這種結構裡(lǐ)，一(yī)個(gè)晶體是發送器(qì)，另一(yī)個(gè)晶體是接受器(qì)。發送器(qì)獨立于接受電(diàn)路(lù)，以便時描發現的缺陷傳送信号能(néng)自(zì)由顯示。測試到(dào)闆材或管材減薄區域時，傳送的脈沖結果不應使第一(yī)個(gè)内壁反射波模糊不清。因此，我們将明白(bái)沒有A掃描的簡易數字測厚儀不是适用于任一(yī)腐蝕坑的發現或測量。

4.MFL檢出缺陷的可能(néng)性
MFL方法使用了一(yī)排探頭，相(xiàng)鄰探頭之間的探測範圍是重疊的。任何漏磁信号檢出的可能(néng)性依賴于漏磁場相(xiàng)對于噪聲信号的振幅大小(xiǎo)。換句話說，信噪比是決定缺陷檢出的主要因素。影響信噪比的參數一(yī)些與檢測設備的設計和操作相(xiàng)關，一(yī)些與底闆條件(jiàn)，包括腐蝕坑的幾何形狀相(xiàng)關。
設備參數底闆參數
磁鐵設計 底闆材料
探頭類型和排列掃描面條件(jiàn)
檢測速度控制 掃描面的覆蓋層
振動阻尼清潔程度
信号處理 腐蝕坑深度缺陷提示 腐蝕坑體積
腐蝕坑形狀
5.1、設備
5.1.1、磁鐵設計
磁鐵必須有足夠的磁場強度才能(néng)使被測試材料裡(lǐ)的磁通(tōng)密度接近飽和。當磁極和測試面之間的距離（提離）沒有太大的變化時，設計的支架必須使磁鐵系統能(néng)沿著(zhe)起伏的掃描面移動。毫無疑問，使用電(diàn)磁鐵的好處之一(yī)是在不同厚度材料或提離變化的條件(jiàn)下(xià)，磁場強度可以通(tōng)過調節來補償。另一(yī)個(gè)實用的好處是在測試表面上(shàng)能(néng)夠關閉磁場，幫助重新移動掃描頭部裝置。它的主要缺點是其尺寸和重量。鑒于此，設計磁鐵時，許多(duō)掃描儀使用了钕一(yī)鐵-硼永久磁鐵。它能(néng)形成緊湊的掃描頭部裝置，其适用的最大壁厚為(wèi)12.5mn；如果降低(dī)靈敏度使用，其适用的最大壁厚為(wèi)20mm。如果能(néng)設計一(yī)個(gè)又(yòu)合适、又(yòu)安全、又(yòu)能(néng)在測試面上(shàng)方便放(fàng)置和重新移動支架系統，它适用的壁厚可能(néng)會(huì)更大。

5.1.2、探頭類型和排列
普遍使用的探頭有線圈和霍爾效應元件(jiàn)兩種類型。在任何情況下(xià)，相(xiàng)鄰排列的兩個(gè)探頭之間的距離應該較小(xiǎo)，确保探頭的探測範圍沒有間隙。如果為(wèi)了消除噪聲信号而使用了差動線圈探頭，那麽在排列時應該考慮實際的情況：穿過該列探頭的漏磁場可能(néng)被擴大到(dào)了3-4倍的腐蝕坑直徑，而且僅存在沿掃描方向的腐蝕坑直徑附近。
在給定的漏磁場中，線圈探頭中産生(shēng)電(diàn)勢信号與磁力線切線方向的速率呈一(yī)定的函數關系。線圈和掃描儀前進速度呈數字變化函數關系。因此，在設備設計時應考慮到(dào)線圈類型探頭的速度敏感性。線圈比一(yī)些霍爾效應元件(jiàn)對提離變化更加靈敏。線圈探頭的一(yī)個(gè)獨特優勢是掃描儀在加速和減速狀态下(xià)産生(shēng)的強渦流對其的影響低(dī)于對霍爾效應元件(jiàn)探頭的影響。
在原理上(shàng)，霍爾效應元件(jiàn)探頭對速度變化具有較低(dī)的敏感性，如果用濾波進行信号處理，用以消除低(dī)頻和高(gāo)頻的僞信号，則要對通(tōng)過上(shàng)下(xià)限幅器(qì)的波段設置一(yī)些速度變化的限制條件(jiàn)。當這些裝置用于發現漏磁場水(shuǐ)平方向分量時，相(xiàng)對來說，它們對上(shàng)面所提到(dào)的渦流信号不敏感，但像線圈探頭，對提離變化是相(xiàng)當敏感的。當用于發現漏磁場垂直方向分量時，它們對提離變化不太靈敏，但對渦流信号非常敏感。然而，這種裝置的一(yī)個(gè)優點是在探測器(qì)套和測試面間有一(yī)個(gè)很大的可以調節的空間，從(cóng)而減少了探測器(qì)套的磨損，探測器(qì)套也可清除一(yī)些表面疵點，如焊接飛(fēi)濺。
5.1.3、速度控制
各種類型的探頭在一(yī)定程度上(shàng)對速度的控制是必要的，但使用線圈探頭時，控制程度要低(dī)一(yī)些。
5.1.4、振動阻尼
背景噪聲和僞信号的一(yī)種來源歸因于掃描面的表面粗糙度。這在儲罐底闆和沒有覆蓋層的地上(shàng)管道表面是非常常見(jiàn)的。在那些表面上(shàng)産生(shēng)的腐蝕導緻了掃描支架上(shàng)磁體和探頭系統振動，因而産生(shēng)噪聲，它可以通(tōng)過三種方法來消除：使用合适寬度的輪子，使用聯合減振器(qì)和根據該振動頻率比缺陷信号的頻率高(gāo)這一(yī)特點而進行信号處理。
5.1.5、信号處理
由于從(cóng)漏磁場得到(dào)的信号相(xiàng)對較小(xiǎo)，因此信号需要放(fàng)大。它們也需要與不想要的噪聲區别對待。通(tōng)過濾波器(qì)波段排除低(dī)頻（渦流）和高(gāo)頻（振動）噪聲。所有的殘留噪聲能(néng)被設置的缺陷檢測閥值電(diàn)路(lù)計算(suàn)，或者在探測的動态顯示情況下(xià)，通(tōng)過操作者來評估總體的噪聲水(shuǐ)平。

5.1.6、缺陷提示
目前，缺陷能(néng)引起操作者注意的方式有三種：
1、自(zì)動停止（Auto stop）遇到(dào)腐蝕坑，且信号顯示探頭發現了該腐蝕坑時，掃描儀自(zì)動停止。直到(dào)操作者取消該顯示之前，掃描儀不會(huì)重新掃描。操作者在腐蝕坑所在的底闆上(shàng)做上(shàng)記号，以便随後對腐蝕坑深度進行測量。
2、動态顯示（Dynamic display）操作者觀察動态顯示的信号，該信号的總體噪聲水(shuǐ)平預示腐蝕坑是否存在。操作者可能(néng)被觸動了預盟極限值的聲音(yīn)或圖形報(bào)警器(qì)提示。操作者在腐蝕坑所在的底闆上(shàng)做上(shàng)記号，以便随後對缺陷深度進行測量。
3、計算(suàn)機(jī)數據采集（Computer data acquisition）為(wèi)了後期的分析和報(bào)告儲存檢測數據，一(yī)些系統使用了計算(suàn)機(jī)。這可能(néng)包含允許用色标表示材料減薄來繪制儲罐底闆簡圖的軟件(jiàn)。操作者可以在每次掃描結束時存取數據，這是為(wèi)了标示有缺陷的底闆，以便随後檢查結果的可重複性。
5.2、底闆
5.2.1、材料
很顯然，鐵磁性材料對MFL是必須的，但鐵磁性材料的滲磁性會(huì)影響檢測結果。與裝置配套使用的标樣闆或标樣管應是用與被檢測設備相(xiàng)同等級鋼材制造。儲罐底闆的材質一(yī)般已不成問題，因為(wèi)儲罐在建造時采用了低(dī)碳中強鋼。更需注意的是選擇标樣管時應确保選擇正确的鋼材等級。對一(yī)個(gè)特定的磁場條件(jiàn)，材料的厚度将影響磁場能(néng)夠達到(dào)飽和的程度，從(cóng)而影響特定腐蝕坑在該漏磁場中的信号振幅。
5.2.2、掃查表面條件(jiàn)
掃查表面應幹淨并清除雜(zá)物(wù)（特别是從(cóng)儲罐頂落下(xià)的腐蝕物(wù)）。表面粗糙度可能(néng)導緻振動噪聲，掃描時需要設置相(xiàng)對高(gāo)的閥值（降低(dī)了缺陷檢出靈敏度）。在具有較薄的塑料覆蓋層（大約1mm）表面掃描時也能(néng)降低(dī)靈敏度。其它不規則部位，如被磨平的焊接飛(fēi)濺或返修焊縫部位将有很大的僞指示信号。這些信号也需儲存，因為(wèi)漏磁檢測（MFL）方法不能(néng)區分是掃查表面的腐蝕坑顯示還(hái)是這些細微部分的顯示，但相(xiàng)對材料壁厚50%深的缺陷或更深的缺陷，漏磁檢測（MFL）方法對這些具體的表面腐蝕坑具有較高(gāo)的靈敏度。
5.2.3、掃查表面的覆蓋層
MFL的一(yī)個(gè)主要的優點是能(néng)在相(xiàng)當厚度的表面覆蓋層上(shàng)掃查并能(néng)保持合理的靈敏度。在6.32mm厚的底闆上(shàng)，在玻璃纖維覆蓋層厚達6mm的情況下(xià)，MFL能(néng)夠進行檢測，能(néng)夠檢出20%壁厚減薄部位。

5.2.4、清潔程度
相(xiàng)對于UT，地闆表面的條件(jiàn)對MFL的影響較小(xiǎo)，但較厚肋骨标尺能(néng)産生(shēng)僞信号，腐蝕物(wù)聚集到(dào)磁極能(néng)通(tōng)過探頭産生(shēng)破裂的僞信号。清除表面雜(zá)物(wù)并用水(shuǐ)沖洗表面就(jiù)足夠了。
5.2.5、腐蝕坑深度
在距上(shàng)述條件(jiàn)表面一(yī)定距離時，腐蝕坑的深度是影向漏磁信号振幅的一(yī)個(gè)主要因素。腐蝕坑的體積和形狀也能(néng)影句該信号的振幅，這将在本文的後面讨論。但在給定的條件(jiàn)下(xià)，漏磁場信号的振幅能(néng)用來評定壁厚損失的百分比從(cóng)而減少了需要的複查量。
5.2.6、腐蝕坑體積
在其它地方曾論述了腐蝕坑的體積是影響信号振幅最重要的因素，這是對MFL檢出的缺陷結果不能(néng)定量的原因，由于這些論點的論述單調，我們決定在真正的腐蝕缺陷上(shàng)借助技(jì)術(shù)模型和一(yī)些經驗性的嘗試，深入的研究腐蝕坑的體積和深度對振幅的影響。制作了一(yī)系列設定深度和不同體積的腐蝕坑模型。在闆厚6.35mm、40%、50%和60%壁厚深的條件(jiàn)下(xià)，腐蝕坑的體積和磁感應強度的變化關系曲線如圖11所示。它說明了腐蝕坑體積增減時對信号振幅大小(xiǎo)的影響。因此建議：對于典型儲罐的“錐型”和“湖(hú)型"腐蝕坑，單獨使用MFL能(néng)合理準确的檢測出嚴重的"複合”腐蝕。然而，
“柱型”腐蝕坑，例如硫化物(wù)（SRB）腐蝕，可能(néng)會(huì)得到(dào)不準确的結果，因為(wèi)在圖11中，"柱型”腐蝕坑的體積對應的曲線部分聚集在一(yī)起。
5.2.7、腐蝕坑形狀
制作試闆時，人們普遍選擇機(jī)械加工(gōng)簡單形模拟缺陷，如鑽平底孔（借助于超聲波試闆制作方法）或簡單的錐形槽。腐蝕坑的形狀對漏磁場的影響是顯而易見(jiàn)的。從(cóng)其剖面看(kàn)，由于腐蝕坑通(tōng)常是以某種方式呈“梯形”發展，出于标樣目的，我們使用了如圖12人工(gōng)模拟梯形缺陷形狀。上(shàng)述經驗所示的經驗結果已經被用來校準MFL的應用系統。
5.2.8、人員(yuán)因素
與其它無損探傷（NDT）方法一(yī)樣，必須考慮人的檢測評估能(néng)力，對于外界環境不好的儲罐更是如此。儲罐内部黑(hēi)、髒且有儲存介質留下(xià)的異味，随著(zhe)儲罐所處位置和季節的變化，其内部溫度有時非常熱（+50℃），有時非常冷
（-20℃）。因此，根據操作者的要求，制造儀器(qì)的基本思想是儀器(qì)盡可能(néng)的輕。但操作者也必須盡可能(néng)的維護好裝置，并精确的完成校驗程序。

5.3，MFL檢出坑狀腐蝕可能(néng)性（POD）概要
在一(yī)定條件(jiàn)下(xià)，MFL方法檢出缺陷的概率是相(xiàng)當高(gāo)的。訓練有素且盡責的操作者使用維護良好的設備在幹淨、無坑注的表面檢測時，壁厚至10mm材料、減薄20%（有時低(dī)于10%）能(néng)夠被準确的檢出。在不太幹淨的表面檢測，壁厚至13mm、減薄40%能(néng)被檢出。在上(shàng)述條件(jiàn)内，MFL能(néng)以0.5m/s的速度掃查，一(yī)次掃查寬度150mm至450mm與U相(xiàng)比，表面條件(jiàn)對MFL的影響較小(xiǎo)，大部分漏磁檢測系統很少要求操作者步步跟随操作。
6，UT檢出坑狀腐蝕的可能(néng)性
Ur對坑狀腐蝕的檢出程度同樣取決于很多(duō)因素。因為(wèi)該方法比MFL慢(màn)，直到(dào)最近，同樣帶網格屏幕逐點檢查的方法才被廣泛用于管道彎頭沖蝕檢測。很顯然，使用這種技(jì)術(shù)檢出單個(gè)麻點的可能(néng)性可以忽略不計。現在優先選擇的是二維掃描技(jì)術(shù)，它能(néng)手動直接接觸掃描，或用沖水(shuǐ)探頭自(zì)動掃描。典型坑狀腐蝕提供的适合超聲波目的的反射面一(yī)般很少，操作者必須能(néng)夠理解信号參數含義，避免誤判。正因如此，簡易的數字測厚儀不适合腐蝕檢測。優先選擇了具備A-掃描力能(néng)的儀器(qì)，這種儀器(qì)優于時描和掃描儀器(qì)。與MFL一(yī)樣，超聲波探傷時，影響其坑狀腐蝕檢出可能(néng)性的因素包括相(xiàng)關的儀器(qì)與技(jì)術(shù)、相(xiàng)關的底闆和可能(néng)存在的腐蝕坑。
儀器(qì)參數 底闆參數
缺陷檢波器(qì) 底闆厚度
探頭類型 掃描表面條件(jiàn)
耦合方法和耦合劑類型 底闆覆蓋層
掃描技(jì)術(shù) 缺陷特征
校正
訓練和經驗
6.1、儀器(qì)
6.1.1、缺陷探測器(qì)
作為(wèi)最低(dī)的要求，它應有A掃描顯示，但如在設備上(shàng)使用了為(wèi)c掃描儀和時掃描儀生(shēng)産的數據儲存技(jì)術(shù)，這會(huì)大大的提高(gāo)缺陷檢出的可能(néng)性。特别驗證了這些儀器(qì)在檢測時需要連續耦合。

6.1.2、探頭類型
在許多(duō)情況下(xià)，被檢驗的材料厚度不超過10mm，掃查表面也不十分光(guāng)滑。這意味著(zhe)單晶探頭的首脈沖将占據正常壁厚信号很重要的一(yī)部分，因此在這種情況下(xià)，這種探頭不适用這種條件(jiàn)。而雙晶探頭克服了這個(gè)問題，但必須記住在探頭設計時，要考慮接受裝置能(néng)夠接受到(dào)最大發射能(néng)量的合适距離。圖13清楚的表示了在這個(gè)距離以外，會(huì)得到(dào)振幅縮小(xiǎo)的反射信号，即使當缺陷反射面平坦，而且平行于掃查表面時也是如此。操作者應特别意識到(dào)腐蝕坑是非理想反射體的可能(néng)情況，當内壁反射波“丢失”時，應準備調節增益。遇到(dào)粗糙的表面，它将會(huì)迅速的磨損探頭上(shàng)的有機(jī)玻璃接觸面，從(cóng)而改變了入射角，因此在探頭裝一(yī)個(gè)耐磨圈是必要的。晶體尺寸（直徑）應在10mm至15mm之間。
6.1.3、耦合方法和類型
目前，超聲波和材料耦合的方法有兩種。對于手動掃描，使用了直接接觸耦合的方法；對于自(zì)動和半自(zì)動掃描，優先選擇了沖水(shuǐ)耦合。在任一(yī)情況下(xià)，耦合的基本要求是能(néng)夠“潤濕”測試表面。手動掃描耦合時，需要使用适當的膠體；沖水(shuǐ)耦合劑時，也可能(néng)需要在其中加入潤濕劑（肥皂）。
6.1.4、掃描技(jì)術(shù)
顯而易見(jiàn)，在網格屏幕上(shàng)逐點讀(dú)數僅适用大面積的腐蝕檢測，對單個(gè)麻點是沒有意義的。因此，運用二維掃描技(jì)術(shù)是相(xiàng)當必要的，其探頭的有效範圍要能(néng)有效的交叠，以确保掃查面完全覆蓋。手動掃描使用相(xiàng)匹配的快速位移探頭比又(yòu)慢(màn)又(yòu)辛苦的方式去接近缺陷部位要好的多(duō)。這是因為(wèi)人眼對屏幕上(shàng)的信号突變（移動）有條件(jiàn)反射。因此，一(yī)旦腐蝕坑被探測到(dào)，就(jiù)可以對腐蝕坑的深度進行更加仔細的研究。
6.1.5，校正
使用超聲波手動掃描時，對于其在檢測狀态下(xià)發現的缺陷，最好在檢測的底闆上(shàng)選擇一(yī)個(gè)已知正常的壁厚部位來校正缺陷探測器(qì)。然後在時基3、6和刻度處設置3次反射波顯示位置。調節增益使第三次反射波能(néng)達到(dào)80%的滿屏高(gāo)。此後，用前面所述的快速運動掃描，在所得到(dào)的3次反射波上(shàng)，耦合衰減将表示為(wèi)同一(yī)個(gè)垂直下(xià)降量。存在的缺陷信号的總體移動顯示依次遞減（第三次、第二次然後是第一(yī)次反射波）并趨向于零。經過練習，眼睛是能(néng)夠準确的識别這些圖形。
6.1.6、訓練和經驗
腐蝕坑的檢測比簡單的厚度測試、或者比沖蝕或疊層的檢測要難得多(duō)。當使用了時基校正 且僅能(néng)顯示一(yī)次反射波的慢(màn)速掃描技(jì)術(shù)時，部分操作者對于低(dī)反射率的腐蝕坑，如錐型腐蝕 坑，存在漏檢的傾向。當操作者恰好遇到(dào)一(yī)個(gè)腐蝕坑時，常出現“丢失”信号現象，這歸因于掃查表面條件(jiàn)惡劣。腐蝕檢測時，要求進行特殊的訓練和經驗。
6.2、底闆

6.2.1、厚度
使用超聲波方法時，較薄的壁厚是存在的主要困難。如圖13所示，從(cóng)低(dī)于6mn厚的底闆一(yī)個(gè)良好的反射體上(shàng)獲得的信号與前面叙述一(yī)樣的衰減。操作者必須意識到(dào)這要求更大的增益。與MFL相(xiàng)比，對于較厚部位（12mm以上(shàng)），超聲波方法的測試距離不太受約束，但其缺陷檢出的可能(néng)性受到(dào)了腐蝕坑形狀和反射率的限制。
6.2.2，掃查表面條件(jiàn)
與MFL相(xiàng)比，U對掃查表面條件(jiàn)更加敏感。這适用于接觸掃描和沖水(shuǐ)間隙掃描。如圖14所示，耦合層的反射産生(shēng)了使時基部分模糊的“噪聲"。由于在耦合層的聲速是在受檢材料中聲速的四分之一(yī)，缺陷頂面可能(néng)給出清晰的反射波顯示剩餘壁厚。圖15表示一(yī)個(gè)1mm深的湖(hú)型腐蝕坑，其底部反射波位置相(xiàng)當于在4mn厚鋼材上(shàng)的反射。如果不注意，操作者可能(néng)會(huì)報(bào)告在10m厚的闆材内側一(yī)個(gè)6m深腐蝕坑被發現（60%誤差）。自(zì)動掃描系統和半自(zì)動掃描系統無論是否使用界面觸發器(qì)或回波監控器(qì)，對同樣的腐蝕坑一(yī)樣會(huì)被曲解。
6.2.3、底闆覆蓋層？
在提供的超聲波探傷時新存在少數難題中，相(xiàng)比之下(xià)，油漆和環氧樹脂覆蓋底闆還(hái)是具有很好條件(jiàn)的覆蓋層。
如果用回波技(jì)術(shù)來排除漆層厚度誤差，則剩餘壁厚的測量精确度會(huì)被提高(gāo)。檢測時，較厚的玻璃纖維覆蓋層存在更多(duō)的問題。盡管在理論上(shàng)，如果支持覆蓋物(wù)的金屬表面狀況很好，在不拆除覆蓋層的情況下(xià)，檢測是可行的，但很少适用于檢測實踐。
6.2.4、腐蝕坑參數
最容易檢出的缺陷是湖(hú)型腐蝕坑，因為(wèi)其最深部位相(xiàng)對平行于掃查表面，能(néng)夠得到(dào)合理的反射率。在另一(yī)方面，錐型腐蝕坑往往是反射波偏離探頭接受器(qì)，腐蝕坑的中心區域太小(xiǎo)不能(néng)得到(dào)較強的信号（見(jiàn)圖16）。這些腐蝕坑很容易被超聲波探傷人員(yuán)漏檢。常見(jiàn)的一(yī)種疊層面是很好的反射體，缺陷能(néng)被檢出，但其深度被低(dī)估。柱型腐蝕坑，如硫化物(wù)（SRB）高(gāo)蝕，存在很小(xiǎo)的、用于超聲波傳送的反射體，它的檢出也一(yī)樣困難。在腐蝕坑反射率有利的部位，超聲波方法比漏磁方法更能(néng)夠發現較小(xiǎo)的厚度變化，但由于腐蝕餘量經常是壁厚的50%，因此這個(gè)優點不一(yī)定在任何情況下(xià)都是重要的。
6.3，UT檢出坑狀腐蝕可能(néng)性（POD）概要
在條件(jiàn)好的掃查表面，湖(hú)型腐蝕坑具有較高(gāo)檢出可能(néng)性。對于條件(jiàn)差的掃查表面和錐型腐 蝕坑，檢出的可能(néng)性不太令人滿意。使用具有數據儲存和至少能(néng)用顔色表示不同厚度“波段”的c掃描顯示的自(zì)動化技(jì)術(shù)，在一(yī)定程度上(shàng)，能(néng)提高(gāo)腐蝕坑檢出的可能(néng)性（POD）。

7、一(yī)些實踐結論
經漏磁檢測（MFL）後，将儲罐底部的部分底闆切除。該部分底闆取自(zì)在檢測報(bào)告中底闆 下(xià)面有腐蝕的區域和腐蝕沒有超過壁厚20%的區域。其中一(yī)部分底闆使用了silverWing公司 的"Floormap"系統，該系統能(néng)繪制底闆圖，用不同顔色标示出腐蝕情況，每一(yī)種顔色代表一(yī)定“波段”的壁厚損失百分數。腐蝕部位受到(dào)了機(jī)械加工(gōng)缺陷深度尺寸的影響，将其結果與MFL報(bào)告結果作了比較。所發現的腐蝕坑包含了“湖(hú)型”“錐型”腐蝕坑例子，在腐蝕坑所在的大緻位置對應于掃查面的另一(yī)側做上(shàng)标記，要求兩組Ur人員(yuán)進行檢測标出腐蝕坑位置并測試其深度。圖17-21是部分被發現的腐蝕圖片。圖22-23是腐蝕坑的真實深度與兩個(gè)U操作者報(bào)告深度位置關系圖。圖24是腐蝕坑的真實深度與L報(bào)告深度的位置關系圖。從(cóng)平均水(shuǐ)平看(kàn)，MFL系統對腐蝕坑缺陷深度高(gāo)估了10%，而超聲波方法低(dī)估了10%。但有一(yī)個(gè)超聲組漏檢了兩個(gè)被标示的、平滑的腐蝕坑。
8、結論
兩種方法能(néng)夠合理檢測，且能(néng)将最小(xiǎo)腐蝕坑檢出的有效厚度檢測範圍是有限的。在前面叙述的MFL檢測條件(jiàn)内，MFL對單個(gè)缺陷檢出可能(néng)性要好于UT，也比T快，因此更經濟。缺陷深度測量精确度方面，通(tōng)過比較，這兩種方法具有相(xiàng)同的百分數的誤差。由于存在底闆材料可能(néng)不是中強鋼的偶然性，從(cóng)而底闆可能(néng)存在不同于标樣闆的滲磁性，因此，在确認MFL腐蝕坑深度評估結果前，要用U對MFL結果至少要進行有限的複查。